【佳學(xué)基因檢測】基因檢測揭示什么樣的自閉癥患者會有智力障礙？

基因檢測如何揭示什么樣的自閉癥患者會有智力障礙？

基因檢測在揭示自閉癥患者智力障礙方面可以提供一些有價(jià)值的信息，盡管目前還沒有特定的單一基因與所有自閉癥患者的智力障礙直接相關(guān)。然而，研究已經(jīng)顯示，特定基因變異可能會與自閉癥患者的智力發(fā)展有關(guān)。

以下是一些常見的基因和變異，它們可能與自閉癥患者智力障礙相關(guān)聯(lián)：

CHD8基因突變：CHD8基因的一些突變已經(jīng)與自閉癥及智力發(fā)育延遲有關(guān)。這些突變可能導(dǎo)致智力發(fā)育的差異。

NRXN1基因變異：這是一個編碼神經(jīng)連接素的基因，其變異與自閉癥患者中智力發(fā)育遲緩相關(guān)。

DYRK1A基因變異：這個基因的變異與智力發(fā)育的問題有關(guān)，部分研究表明它可能與自閉癥的智力表現(xiàn)有關(guān)聯(lián)。

16p11.2區(qū)域缺失或重復(fù)：這個基因組區(qū)域的變異與自閉癥、智力障礙以及其他神經(jīng)發(fā)育問題相關(guān)。

MECP2基因：雖然主要與雷文氏綜合征相關(guān)，但在一些自閉癥患者中也有發(fā)現(xiàn)，它與智力發(fā)育的問題有關(guān)。

這些基因變異不僅僅與自閉癥的發(fā)生有關(guān)，還可能影響患者的智力水平。通過基因檢測，可以檢測這些基因是否存在變異，進(jìn)而幫助醫(yī)生更好地理解患者的病因和可能的發(fā)展軌跡。然而，需要注意的是，自閉癥的病因和發(fā)展過程極其復(fù)雜，智力發(fā)育問題可能還受多種其他因素影響，包括環(huán)境因素和基因-環(huán)境互作等。

因此，基因檢測雖然可以提供一些關(guān)鍵信息，但在診斷和治療中仍需綜合考慮多種因素，而不是單一依賴基因檢測結(jié)果。

自閉癥基因解碼如何評估自閉癥基因與智力障礙之間的關(guān)系的？

有害的從頭突變（DNVs）和一些罕見的遺傳功能缺失突變（LoFs）與智力障礙有關(guān)

為了評估基因型與自閉癥譜系障礙（ASD）表型之間的關(guān)聯(lián)，自閉癥基因解碼使用了SPARK中自報(bào)的認(rèn)知障礙、SSC中Vineland評分<70或ASC中存在智力障礙的情況。在LOEUF評分排名前10%的基因中，有害的從頭突變在有認(rèn)知障礙證據(jù)的自閉癥（ASD)病例中顯示出更高的負(fù)擔(dān)（χ2檢驗(yàn)，P = 1.1 × 10−24），這與之前的結(jié)果一致。一旦排除已知的自閉癥（ASD)或神經(jīng)發(fā)育障礙（NDD）基因，LOEUF評分排名前10%的基因中有害從頭突變的剩余負(fù)擔(dān)大大減少，并且與自閉癥（ASD)的認(rèn)知表型無顯著關(guān)聯(lián)。LOEUF評分排名前10%的基因中罕見功能缺失突變向有認(rèn)知障礙的自閉癥（ASD)病例的過度傳遞約為無認(rèn)知障礙病例的2.7倍（χ2檢驗(yàn)，P = 4.6 × 10−3），即使排除已知的自閉癥（ASD)或NDD基因后仍然是2倍（χ2檢驗(yàn)，P = 0.04）。然而，由A-risk優(yōu)先排序的基因中的罕見功能缺失突變與認(rèn)知障礙無關(guān)。綜上所述，這些結(jié)果表明，LOEUF評分排名前10%的基因中的罕見變異——其中大多數(shù)已知是自閉癥（ASD)或NDD風(fēng)險(xiǎn)基因——與認(rèn)知障礙有關(guān)。然而，一部分罕見的遺傳變異，特別是那些由A-risk優(yōu)先排序的變異，與認(rèn)知障礙無關(guān)。

在gnomAD LOEUF評分排名前10%的基因中，pExt ≥ 0.1的超罕見遺傳功能缺失突變（LoFs）也顯示出更高的傳遞比例，并且向有認(rèn)知障礙（CogImp）的自閉癥譜系障礙（ASD）后代的過度傳遞率高于無認(rèn)知障礙（NoCogImp）的后代。其他受限基因中的罕見功能缺失突變與表型嚴(yán)重程度沒有顯著關(guān)聯(lián)。在排除已知的ASD或神經(jīng)發(fā)育障礙（NDD）基因后，有認(rèn)知障礙病例中遺傳功能缺失突變的增加負(fù)擔(dān)仍然顯著。數(shù)據(jù)以平均值±標(biāo)準(zhǔn)誤差的形式呈現(xiàn)，誤差線表示標(biāo)準(zhǔn)誤差。使用泊松檢驗(yàn)計(jì)算P值以評估富集倍數(shù)，使用二項(xiàng)式檢驗(yàn)評估過度傳遞。